光応用・視覚
計測
合同研究会

 
日 時 2010年2月2日(火) 12:30〜17:45
    2010年2月3日(水) 9:30〜12:00
場 所
北海道大学(〒060-8628北海道札幌市北区北13条西8丁目北海道大学
大学院工学研究科・ミーティングルーム<最寄地下鉄駅からは徒歩10分、JR札幌駅からは徒歩20分>北海道大学 大学院工学研究科への交通案内:
http://www.eng.hokudai.ac.jp/graduate/location/
工学研究科ミーティングルームの位置:工学研究科正面玄関を入って玄関ロビー左側(南側)の廊下を10mほど南向きに進んだ所)
協 賛 IEEE-IM
議 題 テーマ「光応用計測と温度計測及び一般」

 

(第2会議室) 2月2日(火) 12:30〜13:45 
座長 大谷昭仁(アンリツ)
 
LAV-10-006
IM-10-001
領域分割計測法を付与した光パルス相関センサを用いたファイバ歪み計測による準分布型広域センシング
◎徐 勳建,野中弘二(高知工科大学),BuenoAntonio,SalesSalvador(Universidad Politecnica de Valencia)
 
LAV-10-007
IM-10-002
FBG反射パワー測定による温度補償歪み監視システム
○佐藤信也(室蘭工業大学)
 
LAV-10-008
IM-10-003
利得スイッチング法を用いた低ジッタ短光パルス発生器の性能評価
◎新井茂雄,野中弘二(高知工科大学)
 
(第2会議室) 2月2日(火) 13:45〜15:00 
座長 白井照光(日本電気計器検定所)
 
LAV-10-009
IM-10-004
周波数可変型パッシブモード同期ファイバレーザの開発
◎腰原 勝(アンリツデバイス),森 隆,大谷昭仁(アンリツ)
 
LAV-10-010
IM-10-005
無バイアス光デバイスを用いたEMI測定サイト評価
○黒川 悟,飴谷充隆,廣瀬雅信(産業技術総合研究所)
 
LAV-10-011
IM-10-006
マイクロ波光伝送システムを用いた1~18GHzのSite VSWR測定
◎飴谷充隆(産業技術総合研究所),宮崎徳一(住友大阪セメント),黒川 悟,廣瀬雅信(産業技術総合研究所),坂井 猛,牟禮勝仁(住友大阪セメント)
 
(第2会議室) 2月2日(火) 15:15〜16:30 
座長 小野 隆(日本大学)
 
LAV-10-012
IM-10-007
強散乱体における散乱・吸収係数計測法の開発 ― 光による生体透視イメージングをめざして ―
○清水孝一,浪田 健,加藤祐次(北海道大学)
 
LAV-10-013
IM-10-008
寝たきり者の日常生活を支援するための監視システム
◎石原新也,寺戸敏彦(岐阜大学)
 
LAV-10-014
IM-10-009
眼電図波形を用いた視線座標の検出法
◎田中智也,寺戸敏彦(岐阜大学)
 
(第2会議室) 2月2日(火) 16:30〜17:45 
座長 大谷昭仁(アンリツ)
 
LAV-10-015
IM-10-010
顔特徴の抽出とその特徴移動量による人の表情識別
◎鈴木貴文,泉 隆(日本大学)
 
LAV-10-016
IM-10-011
車両前方画像からの標識抽出における検出サイズの検討
◎松丸怜史,泉 隆(日本大学)
 
LAV-10-017
IM-10-012
三線式交差誘導線を用いた連続的な列車位置検知方式による踏切警報定時間制御に関する研究 -車上-地上間双方向伝送特性-
◎松村太陽,福島功一朗,中島 隆,小野 隆(日本大学)
 
(第2会議室) 2月3日(水) 9:30〜10:45 
座長 黒川 悟(産業技術総合研究所)
 
LAV-10-018
IM-10-013
画像情報を用いた岩石の風化度評価手法の検討
◎門馬英一郎,石井弘允,小野 隆(日本大学)
 
LAV-10-019
IM-10-014
位相雑音からアラン分散への変換に関する検討
◎小川真人,今池 健,作田幸憲,関根好文(日本大学)
 
LAV-10-020
IM-10-015
コークス炉高温炉壁の熱画像計測
○杉浦雅人,境田道隆,藤懸洋一(新日本製鐵)
 
(第2会議室) 2月3日(水) 10:45〜12:00 
座長 田辺一夫(電力中央研究所)
 
LAV-10-021
IM-10-016
既存炉を利用した白金パラジウム熱電対の不均質測定に関する研究
○佐藤弘康(日本電気計器検定所)
 
LAV-10-022
IM-10-017
ミリ秒ランプ加熱プロセスにおけるシリコン基板温度のin-situ放射温度計測
◎平加健介,清水孝雄(チノー),山田善郎,石井順太郎(産業技術総合研究所)
 
LAV-10-023
IM-10-018
白金抵抗温度計の自己加熱による影響の調査(その2)
○小平和明(日本電気計器検定所)
 

 

1件当たり25分(質疑応答5分を含む)