誘電・絶縁材料 電線・ケ-ブル |
合同研究会 |
〔委 員 長〕 | 田中康寛(東京都市大学) | |
〔幹 事〕 | 関口洋逸(住友電気工業),西川宏之(芝浦工業大学) | |
〔幹事補佐〕 | 今井隆浩(東芝),布施則一(電力中央研究所) | |
〔委 員 長〕 | 鈴置保雄(名古屋大学) | |
〔幹 事〕 | 三浦浩二(昭和電線ケーブルシステム) | |
〔幹事補佐〕 | 名古屋芳久(ビスキャス),古沢健一(ジェイ・パワーシステムズ) | |
日 時 | 2016年3月4日(金) 13:00〜16:50 | |
場 所 | 中央電気倶楽部(大阪市北区堂島浜2丁目1番25号,交通:大阪駅より徒歩12分ほか。詳細は次のURLをご参照ください。http://www.chuodenki-club.or.jp/map/map.html) | |
議 題 | テーマ「電線・ケーブル・電力機器の劣化診断および判定技術(仮)」 |
(215号室) 3月4日(金) 13:00〜15:00 | |
座長 菊池祐介(兵庫県立大学) | |
DEI-16-050 EWC-16-005 |
空気を封入した真空インタラプタの中真空領域での部分放電特性と真空リーク検出法 |
◎中岡崇志,横道洲星,小迫雅裕,匹田政幸(九州工業大学),佐藤和弘,森山智広,浦井 一,土屋賢治(日立製作所) | |
DEI-16-051 EWC-16-006 |
SF6ガス中くさびギャップのインパルス電圧下における部分放電開始電圧 |
◎中村晋太郎,小迫雅裕,匹田政幸(九州工業大学),吉田 聡,千切健史(東芝) | |
DEI-16-052 EWC-16-007 |
繰り返しインパルス電圧下における乱巻きモータコイルの部分放電現象 |
○菊池祐介,安本雄祐,永田正義(兵庫県立大学) | |
DEI-16-053 EWC-16-008 |
エチレン酢酸ビニル共重合体の酢酸ビニル量推定における遠赤外吸収分光と赤外吸収分光の比較 |
◎井筒智之,小高大祐,小松麻理奈,大木義路(早稲田大学),水野麻弥(情報通信研究機構) | |
DEI-16-054 EWC-16-009 |
積層型セラミックチップコンデンサを対象とした低電圧用インパルス試験機の試作と波形の電圧依存 |
◎鈴木正太郎,松本 聡(芝浦工業大学),打田宏志,安原武志(電子制御国際) | |
DEI-16-055 EWC-16-010 |
サージ電圧が各条件下における放電特性に与える影響 |
◎久保田涼人,戸田 亮,藤本博晃,村上義信,川島朋裕,長尾雅行(豊橋技術科学大学) | |
(215号室) 3月4日(金) 15:10〜16:50 | |
座長 木島 孝(ビスキャス) | |
DEI-16-056 EWC-16-011 |
直流電圧および矩形波電圧下におけるポリアミドイミドフィルム内に蓄積する空間電荷分布測定 |
◎岩田知之,百瀬峻也,三宅弘晃,田中康寛(東京都市大学) | |
DEI-16-057 EWC-16-012 |
難燃EPDM絶縁ケーブルへ熱・放射線同時付与時の周波数領域反射法による劣化位置標定 |
○平井直志,大木義路(早稲田大学) | |
DEI-16-058 EWC-16-013 |
電流積分電荷法による絶縁劣化診断の提案 |
○高田達雄,森 琢磨,岩田知之,藤富寿之,小野泰貴,三宅弘晃,田中康寛(東京都市大学) | |
DEI-16-059 EWC-16-014 |
テラヘルツ分光とイメージングによる低密度ポリエチレン中の過熱部の検出 |
◎井筒智之,小高大祐,香西拓哉,小松麻理奈,大木義路(早稲田大学),齊藤隆志,山崎孝則(住友電気工業) | |
DEI-16-060 EWC-16-015 |
加熱処理および加水処理を施したエナメル線の空間電荷分布測定 |
◎才木崇史,佐藤皓基,三宅弘晃,田中康寛(東京都市大学),前野 恭(情報通信研究機構) | |