計測研究会

	〔委 員 長〕	大谷昭仁（日本大学）
	〔副委員長〕	仲嶋　一（福山大学）
	〔幹　　事〕	作本義孝（日本大学），今池　健（日本大学）
	〔幹事補佐〕	白井照光（日本電気計器検定所），小平和明（日本電気計器検定所）
日　時	2017年10月27日（金）　14:00〜16:40
場　所	電気学会会議室（電気学会会議室（電気学会 会議室（電気学会 会議室 東京都千代田区五番町6-2，交通：JR総武線（中央線各駅停車）市ヶ谷駅下車 徒歩2分。詳細は次のURLをご参照ください。http://www.iee.jp/?page_id=369）〔企画担当 作本義孝（日本大学）、河村尚志（アンリツ）〕）
協　賛	IEEE Instrumentation & Measurement Tokyo/Japan Sections Joint Chapter
議　題	テーマ「計測一般」

  

10月27日（金）　14:00〜15:15　テーマ「計測一般」
座長　作本義孝（日本大学）
IM-17-026	対数正規分布の部分的Q-Q確率プロットによる分布推定法
	○佐山周次（防衛大学校）
IM-17-027	平面近傍界測定によるアンテナの利得測定
	○河村尚志（アンリツ）
IM-17-028	白色干渉の振幅情報と位相情報に基づく 極めて薄い透明電極ITO膜厚の計測
	○陳　凱,雷　楓,伊藤雅英（筑波大学）
10月27日（金）　15:25〜16:40　テーマ「計測一般」
座長　河村尚志（アンリツ株式会社）
IM-17-029	ミリ波帯材料特性の不確かさによるLTCC回路の伝送損失予測と測定
	◎She Yuanfeng,加藤悠人,黒川　悟（産業技術総合研究所）,廣川二郎（東京工業大学）
IM-17-030	広帯域アンテナを用いた1アンテナ法によるグランドプレーン反射面の影響評価
	◎松川沙弥果,黒川　悟,She Yuanfeng（産業技術総合研究所）
IM-17-031	一次元円走査型近傍界遠方界変換(Kim 法)
	○廣瀬雅信,黒川　悟（産業技術総合研究所）

  

※	1件当り25分(質疑応答5分を含む)